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DR-H203-1B半導體器件高低溫沖擊試驗箱
半導體器件高低溫沖擊試驗箱（也稱為溫度沖擊試驗箱）是一種用于測試半導體器件在惡劣溫度變化下性能穩(wěn)定性的設備。它模擬器件在實際使用環(huán)境中可能遇到的溫度驟變情況，測試器件的耐溫性和可靠性。具體來說，試驗箱可以迅速將溫度從高溫轉變到低溫，或者從低溫轉變到高溫，以測試半導體器件在這種沖擊環(huán)境下是否會出現(xiàn)故障或性能退化。
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更新日期
2025-11-06
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DR-H203-1A電子元件高低溫沖擊試驗箱
電子元件高低溫沖擊試驗箱（通常也叫做溫濕度沖擊試驗箱、冷熱沖擊試驗箱）是一種用于測試電子元件、部件或材料在惡劣溫度變化下的耐受性與穩(wěn)定性的設備。它能夠模擬產品在快速溫度變化環(huán)境下的工作狀態(tài)，以評估其可靠性和性能。
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2025-11-06
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DR-H203-80Z小型三箱冷熱沖擊試驗箱
小型三箱冷熱沖擊試驗箱是一種專門設計用于測試小型或精密產品在快速冷熱變化條件下的可靠性和耐用性的設備。與大型設備相比，三箱冷熱沖擊試驗箱體積較小，適用于需要有限空間內測試的產品，如手機、電子元件、小型機械部件、LED燈具等。
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更新日期
2025-11-06
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DR-H203-80Y定制尺寸三箱冷熱沖擊試驗箱
定制尺寸三箱冷熱沖擊試驗箱是一種根據用戶特定需求定制尺寸和容量的環(huán)境測試設備，通常用于測試各種電子產品、汽車部件、航空航天設備等在快速冷熱交替的惡劣環(huán)境條件下的性能與可靠性。與標準尺寸的三箱冷熱沖擊試驗箱相比，定制尺寸的設備能夠根據測試樣品的大小、數量或特殊需求（如特定溫度范圍或功能）進行優(yōu)化設計。
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2025-11-06
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DR-H203-80XIEC 標準的三箱冷熱沖擊試驗箱
IEC 標準的三箱冷熱沖擊試驗箱是依據 ASTM（美國材料與試驗協(xié)會） 的標準設計與制造的，用于模擬材料、電子設備及其它產品在惡劣溫度變化下的表現(xiàn)，評估其耐用性、可靠性和性能。具體而言，三箱冷熱沖擊試驗箱可以模擬快速的溫度變化，測試產品在溫度驟變情況下的穩(wěn)定性。
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